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高電圧/大電流パワー半導体テストシステム
WL25MV マルチステージ高電圧／大電流パワー半導体テストシステム
ターゲットデバイス IGBT/MOSFETモジュール、チップ
WL25MVを用いた測定プロセス例（4 マルチステージ　検査工程）
■ 8マルチステージ対応 （AC測定/DC測定ステージ）
■ データを集中管理・制御 （マルチプロダクト Window）
■ 安定した生産環境のご提供
過電流保護機能搭載し、動特性試験におけるデバイス破壊を阻止します。