リニアICテストシステム WL25/WL25Z = 株式会社シバソク =

HOME > 製品案内 > 半導体テストシステム > リニアICテストシステム

概　要
リニアIC測定システムで国内トップブランドの地位を築いたWL25シリーズは、高精度なDCパラメータ測定、波形解析、時間測定の機能を備え、柔軟性と拡張性を兼ね備えた生産工程に最適なテストシステムです。
テストシステムのOS（オペレーティングシステム）は、世界で広く使用されているWindowsを採用し、使い慣れた操作性の高い環境を提供しています。プログラミング言語は、C言語に準拠した自社開発の計測用C言語 (Tester-C) を使用しています。

基本システムは、パーピンソース（最大512ピン）をベースとしたDC測定機能で構成され、さらにタイムメジャー、DSP、デジタル・ファンクションの各モジュールの追装が可能です。DC測定では最大16個のデバイス同時測定が可能で、ウェーハテストで高いスループット能力を発揮します。また、シバソクのICテストシステムの特長である4ラインマルチDGS (Device Ground Sense) の搭載は、パワー系デバイスを4個同時で高精度に測定を行います。

シバソクのWL25シリーズ・リニアICテストシステムは、モバイル機器・ゲーム機・デジタル家電に使われる電源ICやパワーマネジメントICなどの小信号デバイスから、自動車・産業用リニア/パワーミックスドシグナル・デバイスまで、広いジャンルのデバイスのテストをカバーします。

シバソク・テストシステムのプラットフォーム
WL25のアーキテクチャは、高いスループットと高精度な測定、高い信頼性を追求したシバソクのテストシステムのプラットフォームです。

柔軟性と拡張性を両立するユニーバーサルスロット方式を採用
デバイスのテスト仕様に合わせて計測モジュールを選択でき最適なシステム構築を可能としています。基本システムがパーピンDC・512ピンのWL25と、128ピンのWL25Zを用意しています。

パワーデバイスを高精度に4個同時測定
4ラインのDGS (Device Ground Sense) を装備し、従来は難しかったパワーデバイスの同時測定を高精度で行います。4個同時測定により高いスループットでテストコスト削減を実現します。

豊富なV/Iソース群、小信号から高電圧・大電流デバイスをカバー
パーピンソースと各種V/Iソース（高電圧、大電流、パルス）を用意し、電圧幅-500V～+2000V、電流は1200Aまでをカバーしています。パーピンソースやV/Iソースの一部は、WL15Z/WL05VZと共通としています。

WL22のリソースを有効利用
WL25/WL25ZとWL22はテストプログラムの互換があり、WL22のリソースを有効活用できます。テストシステムの置き換えを短時間かつ低コストで実現します。

仕　様
パーピンDCソース	: ±32 V/±32 mA : WL25 最大512 ch : WL25Z 最大128 ch
DCマトリックス	: 11ライン、マルチプレクサ内蔵 : WL25 最大512ピン : WL25Z 最大128ピン
V/Iソース	: ±50 V/±250 mA、最大128 ch
パワーV/Iソース	: ±128 V/±250 mAまたは±40 V/±2 A、最大16 ch : ±60 V/±10 A、最大8 ch : ±30 V/±30 A（フローティング）、最大8 ch
高圧V/Iソース	: -500～+800 V/±200 mA、最大16 ch : +2000 V/±20 mA、最大8 ch
パルスV/Iソース	: ±16 V/±100 A（最大1200 A）
タイムメジャー	: 10 nsec～6 sec、100 psec、最大8 ch
オーディオ	: 1出力+2入力、0.1 Hz～250 kHz、最大8 ch
デジタルファンクション	: 最大64 I/Oピン、5 MHz、-5 V～+18 V
DSP	: 最大8台（波形発生器1 chとデジタイザ2 chの組合せ）
-波形発生器	: AFG DC～3 MHz/10 Msps、16ビット : VFG DC～100 MHz/240 Msps、14ビット
-デジタイザ	: ADGT DC～3 MHz/10 Msps、16ビット : VDGT DC～100 MHz/80 Msps、14ビット
同時測定数	: 1,2,4,8,16 DUTs/ST

ターゲットデバイス
レギュレータ/ディテクタなどの電源関連IC、IPD、IMD、車載用IC、モータドライバIC、オーディオ/ビデオIC 他