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 概 要
S230は、業界のデファクトスタンダードになりつつあるPDPドライバー・テストシステムで、データ・ドライバばかりでなく、高電圧が必要となるPDPのスキャン・ドライバのテストも正確にテスト可能です。Wafer Probe Test, TCP Test, QFP Testなど各種プローバ、ハンドラとの接続も実績があります。
また、最近脚光を浴びてきている高速I/FのRSDSや高速クロックはS230Hにて対応しています。
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| 主な仕様 |
| Test Rate: |
20/40/60 MHz |
| Perpin TG: |
64 I/O、512 HV pins |
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RSDS I/F対応 |
| 同時測定: |
4 DUTs/ST |
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高速コンパレータ対応 |
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高精度 Tr/Tf測定可能 |
| オプション: |
HS-CLK、OLED |
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