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 概 要
高スループット・ローコスト・省スペースを実現したマルチテストに対応したLSIテストシステムです。ファンクションテストは業界一の高スループットを実現。単なるロジックテストではなく、オプションを搭載する事により、1BIT-DAC等のAudioアナログ測定も可能にした幅広い用途に適用できるテストシステムです。
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| 主な仕様 |
| Test Rate: |
20/40 MHz |
| Perpin TG: |
512 I/O pins |
| 同時測定: |
32 DUTs/ST |
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| ターゲットデバイス |
| DVD/CD-RW/CD-ROM/PHS/MCU/LCD-Dr/LTPS/SYSTEM LSI |
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