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半導体テストシステム
去る12月2日から幕張メッセで開催されました“SEMICON JAPAN 2009”に出展しました。
弊社ブースに、数多くお立ち寄りいただきありがとうございました。今後とも、弊社、製品のご愛顧のほどよろしくお願いいたします。
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アナログ/ミックスドシグナルテストシステム
CERES
アナログ/ミックスドシグナル・テストシステム
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ミックスドシグナルLSIテストシステム
WL27/WL27H
ミックスドシグナルLSIテストシステム
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リニアICテストシステム
WL05VZ
オプティマイズドDCテストシステム
WL15Z
リニアICテストシステム
WL25
リニアICテストシステム
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LSI テストシステム
S210
LSI テストシステム
S230/S230H
PDPドライバICテストシステム
S330
FPDドライバICテストシステム
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ハンドラ・プローバ装置
W91X
ICハンドラ(自重落下式)
WS58
ダブルサイド ウェーハ ブローバ
WS51
ダブルサイド ウェーハ ブローバ(マニュアルタイプ)
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テーピング装置
工事中
新規商品企画中です。しばらくお待ちください。